Logo

High precision thickness measurements using tactile probes

Тип переговорной

Постоянное

Обязательное поле.
Обязательное поле.
Обязательное поле.
Обязательное поле.
Обязательное поле.
Обязательное поле.
Обязательное поле.
Обязательные поля
Если вы уже зарегистрировались, но не можете найти подтверждение вашей регистрации, Нажмите здесь!
Это неправильный адрес электронной почты. Проверьте адрес еще раз.

Письмо с подтверждением и учетными данными для входа отправлено на указанный адрес эл. почты.

Проверка параметров системы. Нажмите здесь!

Программа мероприятия

In this webinar, you will gain insight into the problem of high-precision thickness measurement of extended objects with tactile gauge heads.

As usual, our SIOS experts have prepared both theoretical expertise and practical application examples for you.

Starting with a description of typical influences and contributions to measurement uncertainty, we will, among other things.

  • different device principles of tactile thickness measurement are compared,
  • the interferometric tactile gauges LM 20 and LM 50 from SIOS and their advantages over other high-precision gauges are explained,
  • application examples for high-precision thickness measurements such as the SIOS gauge block comparator, the lens and wafer thickness measuring station are shown, as well as
  • possibilities of upgrading an existing length and thickness measurement setup with interferometers will be presented. 

At the end, our speakers will answer questions from the live webinar chat.


Speaker: Wolfram Meyer, Michael Kühnel

Language: English

Recording from: March 08, 2022

Time: 50 min

Г-н Dipl.-Ing. Wolfram Meyer

Г-н Dr.-Ing. Michael Kühnel

F& E / Projektleitung // Project Manager R&D