Logo

High precision thickness measurements using tactile probes

Tipo de sala

Permanente

Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Este campo é obrigatório.
Campos obrigatórios
* Caso já tenha se registrado e não consiga localizar seu e-mail de confirmação de registro, clique aqui!
O endereço de e-mail está incorreto. Verifique seu endereço de e-mail.

Um e-mail de confirmação com detalhes de login foi enviado ao e-mail fornecido.

Teste de configuração do sistema. Clique aqui!

Pauta do evento

In this webinar, you will gain insight into the problem of high-precision thickness measurement of extended objects with tactile gauge heads.

As usual, our SIOS experts have prepared both theoretical expertise and practical application examples for you.

Starting with a description of typical influences and contributions to measurement uncertainty, we will, among other things.

  • different device principles of tactile thickness measurement are compared,
  • the interferometric tactile gauges LM 20 and LM 50 from SIOS and their advantages over other high-precision gauges are explained,
  • application examples for high-precision thickness measurements such as the SIOS gauge block comparator, the lens and wafer thickness measuring station are shown, as well as
  • possibilities of upgrading an existing length and thickness measurement setup with interferometers will be presented. 

At the end, our speakers will answer questions from the live webinar chat.


Speaker: Wolfram Meyer, Michael Kühnel

Language: English

Recording from: March 08, 2022

Time: 50 min

Sr. Dipl.-Ing. Wolfram Meyer

Sr. Dr.-Ing. Michael Kühnel

F& E / Projektleitung // Project Manager R&D