Logo

High precision thickness measurements using tactile probes

Rodzaj pokoju

Permanentny

To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
To pole jest wymagane.
Pola wymagane
Jeśli już zarejestrowałaś/łeś się na to spotkanie, a nie otrzymałaś/łeś maila z potwierdzeniem, kliknij tutaj!
Adres email jest niepoprawny. Sprawdź dokładnie adres e-mail.

Wiadomość email zawierająca informacje na temat logowania do pokoju została wysłana na wskazany adres.

Test konfiguracji systemu. Kliknij tutaj!

Plan wydarzenia

In this webinar, you will gain insight into the problem of high-precision thickness measurement of extended objects with tactile gauge heads.

As usual, our SIOS experts have prepared both theoretical expertise and practical application examples for you.

Starting with a description of typical influences and contributions to measurement uncertainty, we will, among other things.

  • different device principles of tactile thickness measurement are compared,
  • the interferometric tactile gauges LM 20 and LM 50 from SIOS and their advantages over other high-precision gauges are explained,
  • application examples for high-precision thickness measurements such as the SIOS gauge block comparator, the lens and wafer thickness measuring station are shown, as well as
  • possibilities of upgrading an existing length and thickness measurement setup with interferometers will be presented. 

At the end, our speakers will answer questions from the live webinar chat.


Speaker: Wolfram Meyer, Michael Kühnel

Language: English

Recording from: March 08, 2022

Time: 50 min

Pan Dipl.-Ing. Wolfram Meyer

Pan Dr.-Ing. Michael Kühnel

F& E / Projektleitung // Project Manager R&D